Papers about the H8_95 beam test

H8_95 paper INDET 135
Noise Occ

TDC Efficiency
ATT 0deg Eff
ATT 7deg Eff
ATT 14deg Eff
ATT Eff Edge
ATT Noise 0deg
ATT Noise 7deg
ATT Noise 14deg
ATT Eff Rot
ATT Eff vs Noise odeg
Att Eff vs Noise 7deg
ATT Eff vs Noise 14deg
ATT Occ
ATT Res Rot
DDR2 Eff
DDR2 Eff Int
DDR2 Residuals
DDR2 resolution
NOise all
UCSC EFF 100V
UCSC Eff 200V
UCSC EFF 100,200V
UCSC Eff Edge
UCSC Mult 100V
UCSC Mult 200V
H8_95 talk

Noise corrected for life time